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黄仁勋称Blackwell芯片曾存在设计缺陷：靠台积电力挽狂澜！

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体育资讯10月23日报道宣称英伟达 CEO 黄仁勋于当地时间周三在访问丹麦时表示：该公司最新的 Blackwell 芯片曾存在设计缺陷，“Blackwell 芯片

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